摘要：本实用新型公开了一种用于解析离子源进样装置的举靶顶靶机构，包括顶靶机构和举靶机构，举靶机构具有举靶平台，举靶平台在进靶过程中向上托举且在退靶过程中向下回退，顶靶机构具有顶靶部件，顶靶部件在进靶过程中向上顶且在退靶过程中向下回退，举靶机构具有定位杆，顶靶机构具有滑动部件，滑动部件滑动安装在定位杆，顶靶机构固定安装在安装在举靶机构上的托块上；本实用新型提供的举靶顶靶机构实现了样品能够先进行一种低真空过度，进而再进入高真空的过程，具有操作灵活和便捷的优点。
- 专利类型实用新型
- 申请人江苏天瑞仪器股份有限公司;
- 发明人刘召贵;徐鹏登;周立;
- 地址215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
- 申请号CN201620556933.3
- 申请时间2016年06月12日
- 申请公布号CN205691541U
- 申请公布时间2016年11月16日
- 分类号G01N27/64(2006.01)I;
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