摘要：本实用新型的提供了一种避光条件下自动线性测试装置，包括：探测器、暗箱侧盖、同步带大轮、过渡件、偏振片、LED光源、暗箱罩、同步带小轮、同步带、步进电机；暗箱侧盖和暗箱罩组成的暗箱上面所有需要固定其他器件的部分设计成便于避光的凹台结构，探测器、步进电机安装在暗箱侧盖上的相应凹台中，LED光源安装在暗箱侧盖上的相应凹台中，步进电机带动固定在其上面的同步带小轮转动，进而带动同步带大轮转动，同步带大轮通过过渡件与偏振片的可转动端安装成一体，这样最终实现偏振片的一端不动，一端随着步进电机的工作而动，达到入射光由弱变强的目的。本实用新型的技术效果能够克服现有技术的不足，实现光强由弱变强进行探测器的线性测试的问题。
- 专利类型实用新型
- 申请人北京滨松光子技术股份有限公司;
- 发明人谭永红;
- 地址100070 北京市丰台区南四环西路128号院诺德中心3号楼903室
- 申请号CN201620510914.7
- 申请时间2016年05月31日
- 申请公布号CN205670016U
- 申请公布时间2016年11月02日
- 分类号G01D18/00(2006.01)I;
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