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    一种X射线无损探伤检测设备

      摘要:本实用新型公开了一种X射线无损探伤检测设备,包括铅房、旋转工件台、控制台、五轴机构以及主电柜;旋转工件台集成在铅房上,旋转工件台包括内部结构和外部结构,其中内部结构为检测台,外部结构为取工件和上工件台,所述的内部结构和外部结构可进行180°旋转,所述的控制台包括控制主机,显示器和监视器;所述的五轴机构是由X轴;Y轴;Z轴;RX轴;RY轴构成,整五轴机构安装在铅房内部底板上,在所述的五轴机构上安装有X射线探伤器。本实用新型提供的X射线无损探伤检测设备,通过设置五轴机构进行无损探伤检测,其检测效率高,并且占地空间小,同时通过设置旋转工件台进行上下料,进一步地提高了检测的效率,提高了工作效率。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人伟杰科技(苏州)有限公司;
    • 发明人陈宗明;
    • 地址215126 江苏省苏州市工业园区星龙街428号苏春工业坊27-D
    • 申请号CN201520796440.2
    • 申请时间2015年10月15日
    • 申请公布号CN205374338U
    • 申请公布时间2016年07月06日
    • 分类号G01N23/00(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;