摘要：本实用新型提供一种薄膜测厚仪，工作台的正上方设有发射装置，升降装置的两侧固定连接夹紧块，升降装置的下端连接第一中心线监测器及发射探头，工作台的内部设有驱动滑轨，滑块的上端设有接收器及第二中心线监测器，滑块上设有定位调节器，定位调节器上设有卡槽及固定孔，固定装置的底部一侧设有角度调节块，另一侧设有固定压块，工作台的外侧设有报警装置。本实用新型的有益效果是在发射探头与接收器上均设置的中心线监测器，当不处于相同中心线时会将信号发送到报警装置中，提醒实验人员调整发射探头与接收器的中心线位置，同时在工作台的一端设置的固定装置可以固定住薄膜，平整的固定薄膜位置，便于精确的测量薄膜的厚度。
- 专利类型实用新型
- 申请人天津良益科技有限公司;
- 发明人李让峰;
- 地址300350 天津市津南区滨海民营经济成长示范基地创意中心A座12B-117号
- 申请号CN201521076218.1
- 申请时间2015年12月18日
- 申请公布号CN205373683U
- 申请公布时间2016年07月06日
- 分类号G01B21/08(2006.01)I;
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