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    一种逆反射标志测量仪

      摘要:本实用新型公开了一种逆反射标志测量仪,包括壳体和照度计光谱探测器,所述壳体内部设有用于升降所述照度计光谱探测器的手动升降机构和用于限制所述照度计光谱探测器的周向转动的周向限位机构,所述照度计光谱探测器和所述手动升降机构固定连接,所述照度计光谱探测器和所述周向限位组件滑移连接。手动调节照度计光谱探测器于垂直方向上的位移,节约了制造成本,避免了由于电机振动而导致测量仪的内部部件位移情况的发生。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人北京中交工程仪器研究所;
    • 发明人杨宗文;田晓辰;吴会杰;高建涛;
    • 地址100000 北京市大兴区黄村镇刘一村委会西500米
    • 申请号CN201620036365.4
    • 申请时间2016年01月15日
    • 申请公布号CN205352927U
    • 申请公布时间2016年06月29日
    • 分类号G01N21/01(2006.01)I;