摘要：本实用新型公开了一种电容测试装置，包括电容接入单元、PLC单元、电容参数转换单元、可编程控制器和显示单元，其中电容接入单元设置有电容插入接口，用于与待测电容插接以将其接入测试装置中，PLC单元与该电容接入单元电连接，电容参数转换单元包括C/F变换电路或者V/T变换电路，该PLC单元可根据电容类别选择不同的输入通道，以将待测电容与C/F变换电路和/或V/T变换电路连通，电容参数转换单元中的C/F变换电路用于将电容参数转换成为波形频率参数，V/T变换电路用于将电容参数转换成为时间参数，可编程控制器通过计算波形频率以及时间大小，即可得到电容测试结果。本实用新型的装置可实现对多种类型电容的准确可靠测量，解决现有的检测装置兼容性差的问题。
- 专利类型实用新型
- 申请人武汉华中数控股份有限公司;
- 发明人刘江涛;鲜飞;沈应龙;郑治桢;
- 地址430223 湖北省武汉市东湖开发区华工科技园
- 申请号CN201520699241.X
- 申请时间2015年09月10日
- 申请公布号CN204945288U
- 申请公布时间2016年01月06日
- 分类号G01R31/01(2006.01)I;
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