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    一种卡尺检定用孔距规

      摘要:本实用新型属于长度计量技术领域,具体涉及一种卡尺检定用孔距规,目的是解决对于非标准类型的卡尺无法通过直接接触测量量块量值来实现检定的问题。其特征在于:它为长方形尺状,其垂直度不大于10μm,在其短边中心线上布置有几个同直径的通孔,通孔的直径和间距根据通用卡尺检定规程JJG30-2012确定。本实用新型采用其垂直度不大于10μm,短边中心线上布置相同直径通孔的长方形尺状结构,可对被检测的中心距卡尺进行直接比较测量,读取被检测的中心距卡尺的示值误差,测量方便准确,显著提高了对非标准类型卡尺的测量能力和范围。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院;
    • 发明人尹琨;刘娅欣;赵宾;
    • 地址100076 北京市丰台区南大红门路1号
    • 申请号CN201420643916.4
    • 申请时间2014年11月02日
    • 申请公布号CN204788101U
    • 申请公布时间2015年11月18日
    • 分类号G01B3/18(2006.01)I;