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    一种谐振频率的测试电路

      摘要:本实用新型公开了一种谐振频率的测试电路,其包括单片机,DDS信号产生电路,功率放大器,第一整流电路,第二整流电路,采样电路,LCD显示器和键盘;所述单片机分别和DDS信号产生电路、采样电路、LCD显示器以及键盘连接,所述DDS信号产生电路的输出端与功率放大器的输入端连接,功率放大器的输出端与相互串联的采样电阻和负载连接,所述采样电阻的两端连接第一整流电路,所述负载的两端连接第二整流电路,所述第一整流电路和第二整流电路分别和采样电路连接。本实用新型与传统的相移测试方式相比,具有更高的测试准确度和稳定性,同时不需要附加任何辅助设备。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人常州中策仪器有限公司;
    • 发明人殷玉飞;丁扬;
    • 地址213022 江苏省常州市新北区华山路18号3号楼420室
    • 申请号CN201520366897.X
    • 申请时间2015年06月01日
    • 申请公布号CN204631128U
    • 申请公布时间2015年09月09日
    • 分类号G01R23/02(2006.01)I;