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    低温药液清洗装置

      摘要:本实用新型提供了一种低温药液清洗装置,涉及半导体晶片工艺技术领域,本实用新型首先通过气体冷却装置对常温气体进行降温冷却,然后将冷却后的气体输送至药液冷却装置内,使常温清洗药液和低温冷却气体之间发生热量交换,从而降低清洗药液温度,最后将冷却后的药液喷射在晶片表面,提高清洗的均匀性,同时减少衬底材料的损失。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人北京七星华创电子股份有限公司;
    • 发明人滕宇;
    • 地址100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号
    • 申请号CN201520313582.9
    • 申请时间2015年05月15日
    • 申请公布号CN204620539U
    • 申请公布时间2015年09月09日
    • 分类号B08B3/08(2006.01)I;B08B13/00(2006.01)I;