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  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN204575030U

    三维激光全自动扫描测量系统

      摘要:本实用新型公开了一种三维激光全自动扫描测量系统,包括:导轨;底座,其可滑动地连接至导轨;工业机械手,其通过轴组件与底座连接,使得其通过底座在导轨上移动;反射器,其夹持在工业机械手上,反射器响应于工业机械手的旋转或者在导轨上移动而做出相应的旋转或者移动,以与激光跟踪仪配合,为激光跟踪仪提供反射;激光跟踪仪。本实用新型通过工业机械手作为激光扫描测量的执行者,夹持着反射器的工业机械手放置在移动平台上,可以实现对工件测量范围的增大和扩展,大大减轻了人员的劳动强度,提高了劳动效率,不仅在保证激光跟踪仪一定位置的前提下可以实现测量的准确性,而且可以用于自由曲面的精确测量,实时给出测量结果。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人北京恒正精机科技有限责任公司;
    • 发明人周世勃;傅奕颉;邢恩奎;王延瑄;黄科锋;荆紫乾;薄剑;李伦;邵君奕;刘国蓉;
    • 地址100083 北京市海淀区中关村东路8号东升大厦C座115-120、122号
    • 申请号CN201520231362.1
    • 申请时间2015年04月16日
    • 申请公布号CN204575030U
    • 申请公布时间2015年08月19日
    • 分类号G01B11/00(2006.01)I;B25J5/02(2006.01)I;