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  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN204202569U

    引伸计

      摘要:本实用新型涉及一种引伸计。所述引伸计的结构包括:激光系统,所述激光系统用于产生激光照射在试验机台上的测试试样;成像系统,所述成像系统用于采集测试试样的图像;测量系统,所述测量系统用于测试图像采集控制和图像信号处理,得出测量数据,并将数据输出;所述测量系统与激光系统和成像系统相关联。本实用新型的引伸计,采用激光系统与成像系统的统一设计,具有结构紧凑、多功能、精度高、环境适应性好的优点,采用本实用新型的引伸计进行测量,具有测量方法简便、测量功能多、测量精度高的特点。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人深圳三思纵横科技股份有限公司;
    • 发明人肖若冰;曾春英;
    • 地址518001 广东省深圳市宝安区68区洪浪北二路长丰工业园F1栋A座
    • 申请号CN201420060166.8
    • 申请时间2014年02月10日
    • 申请公布号CN204202569U
    • 申请公布时间2015年03月11日
    • 分类号G01B11/16(2006.01)I;G01N3/08(2006.01)I;