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    进样系统、装置和检测设备

      摘要:本实用新型提供了一种进样系统、装置和检测设备,在进样装置上设置有密封装置,使用时,密封装置与进样口密封连接。本实用新型所述密封方法及进样系统、装置和检测设备,将进样口做成开放式敞开的进样口,即密封装置不设置在进样口处,而设置在进样装置上以达到与检测设备进样口的密封,克服了现有的进样装置进样时由于需要刺穿隔垫而带来的污染,进而避免了数据的干扰,有效降低了物质检出限,提高了用户体验。同时本实用新型所述的检测设备进样系统的密封方法能够兼容多种进样方式,用户不需要购置多种检测设备,降低了检测成本。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人武汉矽感科技有限公司;上海矽感信息科技(集团)有限公司;
    • 发明人徐珩;颜毅坚;马军;刘立秋;徐翔;
    • 地址430000 湖北省武汉市东西湖区台商投资区吴南路4号
    • 申请号CN201420273529.6
    • 申请时间2014年05月27日
    • 申请公布号CN203929787U
    • 申请公布时间2014年11月05日
    • 分类号G01N35/00(2006.01)I;