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    X荧光测厚仪的控制系统

      摘要:本实用新型公开一种X荧光测厚仪的控制系统,包括摄像头、探测器、总控制面板,LED照明、定位机构、计算机、光管、高压包、五位联体准直器、电动样品台、触摸屏、高压包电源、AC/DC电源、显示屏、高压指示电路、门控制电路、ROHS检测模块,伺服控制板和切换UT板,所述高压包通过RS232串口线与总控制面板连接,高压包通过I/O接口与高压指示电路连接,高压指示电路与门控制电路连接,所述高压包的高压端与高压包电源连接,所述五位联体准直器通过切换UT板与总控制面板连接,所述电动样品台通过伺服控制板与总控制面板连接。控制系统故障率低寿命长,保证高压包工作时,门电路控制箱门关闭,保证人员安全。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人上海优特化工有限公司;
    • 发明人宋涵华;
    • 地址201800 上海市嘉定区迎园路400号
    • 申请号CN201320846468.3
    • 申请时间2013年12月20日
    • 申请公布号CN203705906U
    • 申请公布时间2014年07月09日
    • 分类号G05B19/418(2006.01)I;G01B15/02(2006.01)I;