摘要：本实用新型公开一种高精尖X荧光测厚仪，包括工作台、工作台控制板、X射线发生装置、摄像头、探测器、总控制面板，还包括X轴伺服面板、Y轴伺服面板、Z轴伺服面板、照明机构、定位机构、门控板、计算机，所述X射线发生装置包括光管、高压包和准直器，所述探测器包括小高压包、主放板、多道板，探测器，电致冷，无需液氮。高效X射线发生装置，大大提高了检测效率和工作效率，并且控制安全易操作，自动化程度高，测厚范围大，应用范围广，可以做合金材料及重金属微量成分分析，镀液主盐以及微量杂质分析。
- 专利类型实用新型
- 申请人上海优特化工有限公司;
- 发明人宋涵华;
- 地址201800 上海市嘉定区迎园路400号
- 申请号CN201320846119.1
- 申请时间2013年12月20日
- 申请公布号CN203704889U
- 申请公布时间2014年07月09日
- 分类号G01B15/02(2006.01)I;
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