摘要：一种基于MIE散射理论的激光粒度仪，包括激光器，激光器的后端按照激光光路的前进方向依次设置有傅里叶变换镜头、样品测试窗口、光电阵列探测器，还包括辅助光电探测器5，所述辅助光电探测器5设置在所述样品测试窗口3与所述光电阵列探测器4之间并与激光光路主轴平行。本实用新型是基于MIE散射理论的激光粒度仪，代替以往的由半导体或气体激光器、扩束镜、空间滤波器组成光源系统的激光粒度仪，克服了以往光路调试对扩束镜及空间滤波器性能要求过高但同时又很难满足的问题。
- 专利类型实用新型
- 申请人济南微纳颗粒仪器股份有限公司;
- 发明人任中京;于代君;
- 地址250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元
- 申请号CN201320812021.4
- 申请时间2013年12月11日
- 申请公布号CN203587476U
- 申请公布时间2014年05月07日
- 分类号G01N15/02(2006.01)I;
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