摘要：本实用新型公开了一种产线光谱测量系统，通过控制中心控制光谱测量装置的测量时序与生产线上被测目标的移动时序相同步，可根据测量需要实现被测目标不同发光区域图像光谱的测量，功能强大且测试速度快，满足各种产线的测试要求；同时还可通过灵活配置成像或者阵列探测等采样方式，减小杂散光，提高测量准确度。
- 专利类型实用新型
- 申请人杭州远方光电信息股份有限公司;
- 发明人潘建根;黄艳;杨培芳;
- 地址310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
- 申请号CN201320698895.1
- 申请时间2013年11月07日
- 申请公布号CN203572575U
- 申请公布时间2014年04月30日
- 分类号G01J3/28(2006.01)I;
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