摘要：本实用新型涉及一种测试双折射干涉条纹，以分析热应力大小的显微应力仪。本实用新型是一种显微应力仪，包括内部置有光源的工作台；工作台的上部、光源的正上方设有一安装孔，该安装孔内设有起偏振镜和磨砂玻璃板，所述起偏振镜和磨砂玻璃板之间留有间隙。还包括显微镜主体和调焦支架，调焦支架固定在工作台上，与显微镜主体固连。显微镜主体由检测镜筒和至少一个显微放大光路装置组成，显微放大光路装置位于检测镜筒的上方，与检测镜筒固连。检测镜筒内，自下而上设有全波片和检偏振镜，全波片和检偏振镜之间留有间隙。本实用新型可测试微小物体的热应力，使用便捷且寿命长，并能与摄像机或照相机联接。
- 专利类型实用新型
- 申请人上海索光光电技术有限公司;
- 发明人张洪光;杨双临;
- 地址200082 上海市虹口区唐山路902号二号楼五楼
- 申请号CN201320634271.3
- 申请时间2013年10月14日
- 申请公布号CN203551461U
- 申请公布时间2014年04月16日
- 分类号G01N21/23(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I;
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