摘要：本实用新型公开一种应用于X射线荧光光谱仪中的样品室，所述的样品室包括样品室本体、测样面板和样品室端盖，样品室本体、测样面板和样品室端盖三者形成一个密封的容置空间。所述的样品室直接固定在测样面板上，形成一个相对独立的部件，避免与X射线荧光光谱仪的机箱连接，故而可以快速、方便的拆卸和安装样品室，实现快速更换样品室的操作，从而满足一些特殊样品的测量需求。本实用新型的X射线荧光光谱仪中的样品室结构简单，方便拆卸、更换，便于仪器的日常使用和维护。
- 专利类型实用新型
- 申请人深圳市禾苗分析仪器有限公司;
- 发明人杨宁波;
- 地址518000 广东省深圳市南山区南头关口二路智恒战略性新兴产业园（原安乐工业区综合楼）27栋2楼B
- 申请号CN201320411460.4
- 申请时间2013年07月11日
- 申请公布号CN203422327U
- 申请公布时间2014年02月05日
- 分类号G01N23/223(2006.01)I;
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