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    一种基于SCE测量结构的测色仪

      摘要:本实用新型公开了一种基于SCE测量结构的测色仪,包括积分球和标准光源,所述积分球的侧壁设置有一入射口,所述标准光源发出的光线通过所述入射口进入积分球,所述积分球底部设置有对应被测物体的测量口,在与所述测量口的法线方向夹角为8°且靠近标准光源的积分球一侧上设置有探测器,在所述积分球另一侧上且与探测器对称的位置处设置有一用于防止被测物体表面的镜面反射光进入探测器的光阱;通过光阱去除通过被测物体表面镜面反射进入探测器的光信号,从而实现了在测试结果中去除镜面反射光线,使得最终得到的测试结果与人眼观测到的相一致,大大降低了测试结果的误差。进一步地,在光阱处设置了一个图像传感器,使用户可以直观的观察被测样品。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院;
    • 发明人袁琨;郑健;陈刚;
    • 地址310018 浙江省杭州市经济技术开发区学源街258号中国计量学院现代科技学院逸夫科技楼12楼1208
    • 申请号CN201320519382.X
    • 申请时间2013年08月23日
    • 申请公布号CN203414172U
    • 申请公布时间2014年01月29日
    • 分类号G01J3/50(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;