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    一种样品平台及X射线荧光光谱仪

      摘要:本实用新型公开一种新的可快速拆卸的样品平台,包括测样面板和样品台,所述的测样面板上设有阶梯孔,所述的样品台嵌合在所述的矩形阶梯孔内。所述的样品台能独立于测样面板,可以快速拆卸和安装。所述的样品台上设有矩形阶梯孔,所述的样品盘嵌合在所述的矩形阶梯孔内。拆卸掉所述的样品台后,则可通过该矩形阶梯孔位置直接对样品平台下方的准直器内的零部件进行拆卸及维修,从而便于准直器内部的零部件的维护,节省了大量的维护时间。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人深圳市禾苗分析仪器有限公司;
    • 发明人杨宁波;
    • 地址518000 广东省深圳市南山区南头关口二路智恒战略性新兴产业园(原安乐工业区综合楼)27栋2楼B
    • 申请号CN201320411523.6
    • 申请时间2013年07月11日
    • 申请公布号CN203337579U
    • 申请公布时间2013年12月11日
    • 分类号G01N23/223(2006.01)I;