摘要：本实用新型涉及一种微弱光检测仪的暗室，其结构包括样品转盘(1)、轴承套(2)、暗室底盘(3)、螺栓套(4)、支架(5)、轴(6)、暗室盖(7)、电机(8)、支柱(9)，其中，暗室盖(7)与暗室底盘(3)扣合在一起形成暗室，样品转盘(1)被密封在所述暗室内。本实用新型的暗室结构降低了外壳加工的难度，有效地屏蔽了仪器内部某些器件发光的影响，保证了仪器本底值的正常。
- 专利类型实用新型
- 申请人北京滨松光子技术股份有限公司;
- 发明人谭永红;申玲;
- 地址100070 北京市丰台区南四环西路188号总部基地11区18号楼
- 申请号CN201320023428.9
- 申请时间2013年01月05日
- 申请公布号CN203100894U
- 申请公布时间2013年07月31日
- 分类号G01J1/02(2006.01)I;
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