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    用于荧光检测的光学检测装置

      摘要:本实用新型公开了一种用于荧光检测的光学检测装置,本实用新型包括发射光源、光电倍增管、第一滤光片、第二滤光片、光纤;发射光源和光电倍增管安装在结构A上,第一滤光片、第二滤光片为一组滤光片安装在结构B上,结构B上有多组滤光片;光纤由两根小光纤并拢而成,小光纤并拢的一端作为检测端,另一端分别为发射端和检测端;发射端将发射光源传递到检测端,接收端将来自检测端的光传递给光电倍增管。光纤的发射端和接收端安装在不能绕Z轴转动的结构C上,所述的光纤有多根,多根光纤的检测端并成一排同时对与光纤并排垂直的方向进行扫描。本实用新型结构A、B可绕Z轴作不同步的转动;结构B上安装有多组滤光片,结构C上有多根光纤。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人杭州博日科技有限公司;
    • 发明人胡军荣;
    • 地址310053 浙江省杭州市滨江区滨安路1192号
    • 申请号CN201220479384.6
    • 申请时间2012年09月19日
    • 申请公布号CN202994660U
    • 申请公布时间2013年06月12日
    • 分类号G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;