摘要：本实用新型适用于测量技术领域，提供了一种测距系统，所述测距系统包括用以发射测量光束至被测物的测量光发射装置以及用以接收经所述被测物反射回的测量光束并转化为测量信号的接收装置，所述测距系统还包括用以发射参考光束的参考光发射装置、将所述参考光束反射至接收装置的挡板以及控制所述测量光发射装置和参考光发射装置启闭的控制开关，所述接收装置系将反射回的参考光束转化为参考信号的接收装置。在此采用双发单收的相位测量模式，无需采用机械装置对测量光和参考光进行切换，精度极高。同时，无需将一个发射装置发射出的光分为测量光束及参考光束，使得本测距系统结构简单。因采用同一接收装置接收测量光束及参考光束，降低了成本。
- 专利类型实用新型
- 申请人深圳市迈测科技有限公司;
- 发明人侴智;李卫明;王红飞;
- 地址518000 广东省深圳市宝安区桃花源创新科技园（铁岗水库旁）孵化大楼A栋315
- 申请号CN201220396403.9
- 申请时间2012年08月06日
- 申请公布号CN202770994U
- 申请公布时间2013年03月06日
- 分类号G01S17/08(2006.01)I;
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