摘要：本实用新型提供的发光二极管补粉分光测试系统，能实现补粉分光测试的精确定位，主机的光谱处理模块和光处理模块连接以收和/或发数据；分光测量支架上夹具组合件设有定位托板，定位托板具有与发光二极管测试样品和电极结构位置和外形相配合的定位孔，定位孔供测试样品就位，积分球底部设有分离式压板，积分球上设有与光处理模块连接的光探测器以收和/或发采集自所述测试样品的光和/或电信号，积分球通过光纤与光谱处理模块相连以发送采集自所述测试样品的光信号；当夹具组合件移动到预定位置时，定位托板与压板压紧配合以允许测试样品穿过定位孔和压板的定位口定位，并允许电极结构穿过所述定位孔和压板的定位口而实现所述测试样品电连接发光。
- 专利类型实用新型
- 申请人杭州赛美蓝光电科技有限公司;
- 发明人郑云;陈东;毛井生;
- 地址310000 浙江省杭州市拱墅区康中路16号3栋三楼300室
- 申请号CN201220197154.0
- 申请时间2012年05月03日
- 申请公布号CN202710180U
- 申请公布时间2013年01月30日
- 分类号G01J3/02(2006.01)I;G01J3/00(2006.01)I;
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