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LCR测试仪

　　摘要：一种LCR测试仪，它包括基准时钟、与基准时钟相连的三个DDS信号源、测量信号发生器、源电阻、连接被测元件的输入电路、自动平衡电桥、两滤波器、两混频器、两A/D转换器和ARM处理器，测试信号通过源电阻去驱动被测元件，被测元件通过输入电路与一组四端对结构相连，自动平衡电桥使Lp端始终虚地，形成两路矢量电压。被测的两路矢量电压经分别滤波、混频后一起送入两A/D转换器，输出至ARM，ARM处理器输出对应电参数进行显示或分选。本实用新型的LCR测试仪是频率达到上MHz、信号电平步进达到1mV的LCR测试仪，有助于了解元器件在实际工作条件下的真实性能，提高产品的性能与可靠性。

专利类型实用新型
申请人常州中策仪器有限公司;
发明人沈小锋;丁杨;
地址213022 江苏省常州市华山路18号，三晶科技园3号楼420室
申请号CN201120494306.9
申请时间2011年12月02日
申请公布号CN202330600U
申请公布时间2012年07月11日
分类号G01R31/00(2006.01)I;G01R27/28(2006.01)I;G01R27/08(2006.01)I;G01R19/25(2006.01)I;