摘要：本实用新型提供一种静态光散射纳米颗粒粒度测量装置，属于粒度分析仪器领域，其结构包括激光器、流动样品池、柱面透镜、条形阵列光电探测器，流动样品池为四面透光的空心矩形立方体，激光器位于流动样品池的窄透光面一侧，柱面透镜附着在流动样品池的宽透光面上，条形阵列光电探测器位于柱面透镜的焦平面上，且柱面透镜和条形阵列光电探测器组成的探测系统的光轴与激光束互相垂直，在同一个子午平面内。本实用新型的特点是专门探测颗粒的前侧向和后侧向散射光的能量分布，因此适用于静态光散射纳米颗粒粒度分析。测试散射光范围45度至135度。可测量的粒度范围为10纳米至5000纳米。
- 专利类型实用新型
- 申请人济南微纳颗粒仪器股份有限公司;
- 发明人任中京;于代君;
- 地址250100 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东2单元
- 申请号CN201120267652.3
- 申请时间2011年07月26日
- 申请公布号CN202281738U
- 申请公布时间2012年06月20日
- 分类号G01N15/02(2006.01)I;
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