摘要：本实用新型公开了一种无源RFID电子标签卡谐振频点测试装置，包括壳体，壳体内封装有增益匹配网络、谐振电路和载波检波电路，壳体的顶部设置有测试平台，其结构简单，架构合理，成本低，测试精度高，可以分别测试LF频段和HF频段的RFID电子标签卡，能够替代价格高昂的进口专业设备，适合RFID电子标签卡频点测试的各种场合使用，完全可以满足RFID电子标签卡生产封装厂商在生产线上大批量对RFID电子标签卡进行频率检测的要求，从而保证了RFID电子标签卡的质量，有效提高了生产效率和产品竞争力，为非接触RFID电子标签卡的研发和生产线检测提供了有力的技术保障。
- 专利类型实用新型
- 申请人中山达华智能科技股份有限公司;
- 发明人蔡凡弟;任金泉;孙洋;
- 地址524815 广东省中山市小榄镇泰丰工业区水怡南路9号
- 申请号CN201020656144.X
- 申请时间2010年12月08日
- 申请公布号CN202013379U
- 申请公布时间2011年10月19日
- 分类号G01R23/02(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I;
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