摘要：一种半导体分立器件测试系统信号发生及采样处理装置，总线板上连有高低源板、所有板开关和继电器板，总线板通过模数转换器与IO口扩展芯片相连，IO口扩展芯片通过计数器与存储器相连，存储器通过数模转换器输出正弦波与总线板相连，IO口扩展芯片通过数模转换器与跟随器相连，跟随器与总线板相连，IO口扩展芯片还通过总线收发器接收总线数据，总线收发器将总线数据送到高低源板处理，模拟板上出来的信号控制开关量，并将其送到数模转换器产生正弦波信号，继电器板采集的信号送到模拟板上转换处理，具有脱机运行，速度快，精度高的特点。
- 专利类型实用新型
- 申请人西安谊邦电子科技有限公司;
- 发明人薛亮平;李耀武;杨炜光;
- 地址710065 陕西省西安市雁塔区太白南路263号1幢2216室
- 申请号CN201020642963.9
- 申请时间2010年12月01日
- 申请公布号CN201984137U
- 申请公布时间2011年09月21日
- 分类号G01R31/26(2006.01)I;G01R1/28(2006.01)I;
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