摘要：本实用新型涉及一种镀层厚度测量装置，其包括：X射线管，与高压电源相连接，发射出X射线，所述X射线的发射方向向上；准直器，设置在所述X射线管与被测物质之间；射线安全联锁机构，设置在X射线管与准直器之间；射线检测器，接收X射线照射到被测物质后发出的荧光信号，并转化为电信号；前置放大器、主放大器、多道分析器与中央控制电路顺序连接；计算机，与所述中央控制电路相连接，接收所述中央控制电路采集的电信号并进行数据处理与计算，获得被测物质的测量结果。本实用新型采用下照式检测结构，测量时只需要将被测物质的被测面朝下放置在检测台上即可，从而使仪器结构简单，使用方便。
- 专利类型实用新型
- 申请人北京时代之峰科技有限公司;
- 发明人崔厚欣;吴速;杨长江;高会娟;刘大亮;
- 地址100085 北京市海淀区上地西路28号
- 申请号CN201020639594.8
- 申请时间2010年12月02日
- 申请公布号CN201876248U
- 申请公布时间2011年06月22日
- 分类号G01B15/02(2006.01)I;
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