• 首页
  • 装备资讯
  • 热点专题
  • 人物访谈
  • 政府采购
  • 产品库
  • 求购库
  • 企业库
  • 品牌排行
  • 院校库
  • 案例·技术
  • 会展信息
  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN201867202U

    传感器老化测试装置

      摘要:本实用新型公开了一种传感器老化测试装置,包括相互电连接的传感器加速老化台和可调直流电源,传感器加速老化台设有多个传感器加速老化工位,每个传感器加速老化工位包括传感器的安装孔、接线端子排和指示灯,可调直流电源设有可调电位器。可以进行传感器的老化指标的测试,使用方便、检测结果准确,可以满足更多不同的老化要求。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人北京七星华创电子股份有限公司;
    • 发明人赵雪;欧瑞萍;
    • 地址100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号
    • 申请号CN201020643499.5
    • 申请时间2010年11月30日
    • 申请公布号CN201867202U
    • 申请公布时间2011年06月15日
    • 分类号G01D18/00(2006.01)I;