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  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN201477021U

    一种用于电镀层表面分析的显微检测仪

      摘要:本实用新型涉及一种用于电镀层表面分析的显微检测仪,包括支架、电子控制装置和计算机,电子控制装置通过导线与计算机连接,所述支架的顶部设有CCD摄像装置,CCD摄像装置包括目镜和物镜转换器,物镜转换器的下部设有物镜和SPM探头,所述支架的底部设有步进马达精密调焦装置,步进马达精密调焦装置的上表面设有步进马达二维精密工作台,步进马达二维精密工作台上表面的中部设有三维扫描台,三维扫描台通过导线与电子控制装置连接。本实用新型的有益效果为:可以用光学显微镜来选择样品的细节,使要测量的部位进入视场的中央,然后将SPM探头转至测量位置,对同一区域进行扫描即可开始高分辨测量,极大地提高了工作效率,成为最实用的表面分析装置。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人苏州海兹思纳米科技有限公司;
    • 发明人胡志强;罗先照;
    • 地址215000 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街218号生物纳米园A4楼105
    • 申请号CN200920175594.4
    • 申请时间2009年08月24日
    • 申请公布号CN201477021U
    • 申请公布时间2010年05月19日
    • 分类号G01N13/00(2006.01)I;G01N13/10(2006.01)I;