摘要：本实用新型公开了一种全波段的CCD检测器性能评价装置，该装置包括紫外可见段分光检测系统、CCD检测器数据采集系统以及CCD检测器性能评价系统；所述紫外可见段分光检测系统通过CCD检测器数据采集系统与CCD检测器性能评价系统相接。本实用新型提供了一套廉价、轻便、快速、全波段的CCD检测器性能评价装置，使得CCD检测器性能评价变得简单快速和全面，且更有利于CCD在光谱仪器中的应用。
- 专利类型实用新型
- 申请人上海光谱仪器有限公司;
- 发明人陈建钢;刘志高;王晓庆;
- 地址201709 上海市青浦区白鹤镇工业园区4小区第4幢24号
- 申请号CN200920209378.7
- 申请时间2009年09月08日
- 申请公布号CN201476956U
- 申请公布时间2010年05月19日
- 分类号G01M11/02(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
