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    CCD线阵相机精密检校装置

      摘要:一种CCD线阵相机精密检校装置,属于CCD相机的精密检校领域,解决了CCD线阵相机精密检校中控制点的确定问题。在整体支架上放置检测图形平面载体,检测图形置于检测图形平面载体上,整体支架水平调整装置位于整体支架的底部,与整体支架相连;在整体支架上安装两条相互平行的精密导轨;检测图形平面载体通过两个导轨滑动块悬于两精密导轨上;检测图形平面载体顶部设计有高精度水准气泡;驱动电机通过丝杠与导轨滑动块相连,带动检测图形平面载体沿精密导轨移动;载体位移编码器与电机同轴连接。通过用不同位置上得到的若干组CCD线阵相机测量数据和相应的控制点的空间坐标数据可求解CCD相机的投影中心、方位、姿态参数。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人北京四维远见信息技术有限公司;
    • 发明人叶泽田;
    • 地址100039 北京市海淀区北太平路16号
    • 申请号CN200820178123.4
    • 申请时间2008年11月20日
    • 申请公布号CN201436557U
    • 申请公布时间2010年04月07日
    • 分类号G01C25/00(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;