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    一种使用X射线荧光光谱仪测量镀层的装置

      摘要:本实用新型提供一种使用X射线荧光光谱仪测量镀层的装置,包括高压发生器、X射线管、准直器、镜片、摄像头、探测器、多道板、计算机,高压发生器连接X射线管,X射线管连接准直器,探测器连接多道板,多道板连接计算机。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人上海优特化工有限公司;
    • 发明人宋涵华;
    • 地址201822上海市嘉定区迎园路400号
    • 申请号CN200920072300.5
    • 申请时间2009年05月15日
    • 申请公布号CN201434851Y
    • 申请公布时间2010年03月31日
    • 分类号G01N23/223(2006.01)I;