摘要：本实用新型涉及一种用于测定膜状荧光物质的样品池，该样品池为一箱体结构，所述的箱体(1)内腔中空对穿，具有左右二个开口(1a)，在其中任一个开口(1a)的顶部(1b)和底部(1c)各设有若干强磁体(2)，所述的强磁体(2)会使一框形导磁盖板(3)将涂有荧光物质的薄膜(4)样品平整地紧扣在该处开口(1a)前，作为测量窗口。本实用新型提供的一种用于测定膜状荧光物质的样品池特别适用于以常规荧光测定仪对荧光涂料薄膜的测定，其结构简单、成本低廉、因此易于推广使用。
- 专利类型实用新型
- 申请人上海棱光技术有限公司;
- 发明人吴树恩;曹剑琛;
- 地址200023上海市卢湾区打浦路350号四楼
- 申请号CN200920069514.7
- 申请时间2009年03月27日
- 申请公布号CN201382892Y
- 申请公布时间2010年01月13日
- 分类号G01N21/01(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;
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