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    一种基于X荧光分析对有毒有害物质实时检测及控制系统

      摘要:一种基于X荧光分析对有毒有害物质实时检测及控制系统,包括一成品生产商管理服务器,多台部件生产商X荧光分析设备和配套的多台部件生产商检测端计算机,其中,每台X荧光分析设备与配套检测端计算机结合,每台部件生产商检测端XRF实时测试数据或测试结果数据经计算机通过互联网和成品生产商管理服务器数据连接。本实用新型通过互联网的实时数据通讯功能,以X荧光分析仪器的实时测量数据作为有毒有害物质含量的数据来源,实现在产品和产品部件的所有生产步骤和生产环节中,对有毒有害物质含量进行实时的检测、监督和判别,从而确保产品符合相应的环保标准。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人深圳市华唯计量技术开发有限公司;
    • 发明人陈琦;殷家祥;杨李锋;刘小东;
    • 地址518055广东省深圳市南山区西丽镇平山民企科技园4栋4楼
    • 申请号CN200820079662.2
    • 申请时间2008年03月28日
    • 申请公布号CN201173904Y
    • 申请公布时间2008年12月31日
    • 分类号G01N23/223(2006.01);