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    测量半导体发光器件用的温控座

      摘要:本实用新型涉及一种具有温控功能和避免结露的测量半导体发光器件用的温控座。它包括温控装置和与温控装置相配合的密封罩,被测试件可置于密封罩内与温控装置相配合。本实用新型具有的有益效果:1.温控装置的设置,使被测试件始终处于相对恒温状态,测试结果准确;2.设有密封罩,可以使被测试件与周围环境隔绝,避免受周围环境的影响;3.密封件的设置,使密封罩的密封效果更好;4.抽气口的设置,真空机通过抽气口连接到密封罩上,可将密封罩内空气抽取,减少水汽,避免水汽凝结到被测试件上。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人杭州浙大三色仪器有限公司;
    • 发明人牟同升;
    • 地址310013浙江省杭州市西溪路525号浙大科技园G楼浙大三色
    • 申请号CN200720303111.5
    • 申请时间2007年12月10日
    • 申请公布号CN201133928Y
    • 申请公布时间2008年10月15日
    • 分类号G01R31/26(2006.01);G05D23/00(2006.01);