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    一种采用双波长结构光测量物体轮廓的方法及装置

      摘要:本发明涉及一种采用双波长结构光测量物体轮廓的方法及装置,属于光学测量技术领域。首先投影仪产生一束经正弦调制后的白光,将白光照射到待测物体上,光场被待测物体调制,照相机拍摄得到图像,使用自相关法计算上述图像上各像素点的相位差,以另一波长进行正弦调制,重复上述过程得到相位差,对两次正弦调制的波长进行组合,得到组合波长和组合相位差,然后计算各像素点的深度,根据设定的物体表面的连续性约束条件,对各像素点的深度进行解包络,得到物体实际三维形状。本发明的装置包括:投影仪、照相机和计算机。本发明的方法和装置,算法稳定性好,可以测量表面形状更加复杂的物体,测量精度高于已有技术。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人清华紫光股份有限公司;
    • 发明人辛建波;高宏;
    • 地址100084北京市海淀区清华园清华大学紫光大楼
    • 申请号CN200510132886.6
    • 申请时间2005年12月29日
    • 申请公布号CN1786658A
    • 申请公布时间2006年06月14日
    • 分类号G01B11/24(2006.01);G01B21/20(2006.01);