摘要：本发明公开了一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法，其特征在于检测器的位置和样品台均可绕样品台的圆心O点旋转，旋转的角度由微处理器CPU根据外接计算机的指令控制步进电机执行。测量时以空气作参比，记录、计算样品的反射率的绝对值。与现有技术相比，由于无多块反射镜的多次反射，使进入检测器的光能量强，仪器操作简便、高速，测量准确度高，重复性好。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海光谱仪器有限公司;
- 发明人陈建钢;刘志高;黄蕾;边丽;
- 地址200233上海市宜山路705号科技大厦4－10楼
- 申请号CN200510072536.5
- 申请时间2005年05月10日
- 申请公布号CN1746657A
- 申请公布时间2006年03月15日
- 分类号G01N21/17(2006.01);G01N21/55(2006.01);
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京公网安备11010802043465号
