摘要：本发明公开了一种检测电路板的方法，它是通过微处理器记录合格电路板上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；再与通过微处理器记录待检测电路板上所述上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，所述掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；并将两者检测数据进行比较，即可判断所检测的电路板是否合格。采用上述技术方案，本发明避免了出现主观产生的误判现象。根据本发明制作的检测装置成本低廉，检测效率高。
- 专利类型发明专利
- 申请人深圳创维—RGB电子有限公司;
- 发明人吴伟;杨军治;卓成钰;
- 地址518106广东省深圳市八卦岭工业区425栋
- 申请号CN200310110921.5
- 申请时间2003年11月07日
- 申请公布号CN1614436A
- 申请公布时间2005年05月11日
- 分类号G01R31/28;G01R31/317;
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京公网安备11010802043465号
