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    测量物体三维表面轮廊的方法

      摘要:测量物体三维表面轮廓的方法属于物体三维测量技术领域,其特征在于:它是一种利用相位和立体视觉技术的结合,在物体表面投射光栅,用两架摄像机拍摄发生畸变的光栅图像,利用编码光和相移方法获得左右摄像机拍摄图像上每一点的相位。利用相位和外极线实现两幅图像上的点的匹配,至此便可利用定标了的摄像机系统,计算点在三维空间的坐标,以实现物体表面三维轮廓的测量。它具有非接触、速度快、数据量大、精度高、操作简单、易于实现等优点。对物体的单面测量只要2秒钟便能得到极高密度的数据,达40万个点,测量的精度在0.05mm以上。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人清华大学;北京天远三维科技有限公司;
    • 发明人钟约先;李仁举;张吴明;马扬飚;袁朝龙;叶成蔚;
    • 地址100084北京市100084-82信箱
    • 申请号CN03153504.6
    • 申请时间2003年08月15日
    • 申请公布号CN1203292C
    • 申请公布时间2005年05月25日
    • 分类号G01B11/24;G01B21/20;G06T15/00;