摘要：本发明提供了化验数据质量的评估方法，所述评估方法包括以下步骤：(A1)使用光谱分析仪扫描样品，获知样品的光谱si，i为正整数；通过化验分析所述样品，获知化验数据分析值yi；(A2)将每一个样品的光谱与化验数据一一对应，获得光谱数据集X＝[s1,s2,…sn]、化验数据集y＝[y1,y2,…yn]；(A3)建立所述光谱数据集和化验数据集间的分析模型y＝f(X)；(A4)获得样品的光谱si，i＝1,2,…n，n为样品数量，并利用所述分析模型y＝f(X)获得样品的化验数据计算值![]()
(A5)得出样品的化验数据计算值![]()
以及该样品的化验数据分析值yi间的统计学的偏差，该偏差越接近于零，化验数据分析值质量越高。本发明具有省时、可靠等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 发明人周新奇;慎石磊;肖鑫龙;杨伟伟;韩双来;俞晓峰;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN201610797122.7
- 申请时间2016年08月31日
- 申请公布号CN106442376A
- 申请公布时间2017年02月22日
- 分类号G01N21/35(2014.01)I;
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京公网安备11010802043465号
