摘要：本发明公开了一种多谱线组合激光诱导击穿光谱谷类作物产地识别方法，该方法包括建立SVM分类模型和产地识别二个过程，采用支持向量机算法，结合LIBS快速物质分析的优点，对不同产地大米进行快速、准确分类，并采用信背比较大的、且彼此相近的同一元素多条特征谱线组合的方式增强不同产地谷类作物(如大米)之间的差异性，从而提高算法的识别精度。该方法将激光诱导击穿光谱技术与SVM算法结合起来，以期达到快速准确识别的目的。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人李祥友;杨平;郭连波;朱毅宁;曾晓雁;陆永枫;李嘉铭;杨新艳;唐云;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201610802039.4
- 申请时间2016年09月05日
- 申请公布号CN106404748A
- 申请公布时间2017年02月15日
- 分类号G01N21/71(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
