摘要：本发明涉及一种校正光谱漂移的方法及装置，所述校正光谱漂移的方法包括以下步骤：(A1)校正光源通过校正入缝射入校正光路，得到校正光源信号；(A2)采集校正光源特征谱线的光谱数据，根据波长与位置的关系式(xi,yi)＝f(λi)获得特征谱线对应的i个初始坐标，其中i≥1；分别以所述i个初始坐标为中心，从X方向和Y方向寻峰得到实际坐标，进而获得i个偏移量(Δxi,Δyi)，通过拟合获得漂移校正系数(δx,δy)＝f(Δxi,Δyi,ωi)，所述X方向和Y方向相互垂直；(A3)待测光源射入主光路，采集待测光源光谱数据，利用所述漂移校正系数对待测光谱的位置进行校正。本发明具有二维寻峰、实时校正，排除主光路干扰等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 发明人陈莉;俞晓峰;夏晓峰;丁海波;李锐;洪波;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN201610779281.4
- 申请时间2016年08月30日
- 申请公布号CN106404173A
- 申请公布时间2017年02月15日
- 分类号G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;
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