摘要：本发明提供了一种提高时间戳测量精度的方法及装置，所述方法包括：获取与被测周期信号具有预设频率偏差的采样时钟；被测周期信号的频率为f1，采样时钟的频率为f2，f2＝(1+1/N)*f1，N≥2，N为正整数；利用采样时钟对被测周期信号进行采样，获得一个周期性采样信号，该周期性采样信号的周期为被测周期信号的周期T1的N倍；当在某时刻检测到被测事件时，获取与该时刻对应的粗计数器的计数值n，以及细计数器的计数值m，并根据n和m获取被测事件的时间戳[n+m*(1/N)]*T2。本发明提供的提高时间戳测量精度的方法及装置，实现起来较为方便，对器件性能要求较低，且根据需要能够达到优于传统时钟计数法的时间精度。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京飞利信电子技术有限公司;
- 发明人杨振华;曹忻军;陈洪顺;徐统业;
- 地址100191 北京市海淀区塔院志新村2号飞利信大厦9层
- 申请号CN201610787322.4
- 申请时间2016年08月30日
- 申请公布号CN106301656A
- 申请公布时间2017年01月04日
- 分类号H04J3/06(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
