摘要：本发明提供了一种连接器、直插式DRAM颗粒、内存测试装置及方法，所述连接器包括：连接器本体和至少一个连接插针，其中，每一个所述连接插针包括插针本体、位于所述插针本体一端的动态随机存取存储器DRAM连接结构、位于所述插针本体另一端的焊盘连接结构；所述DRAM连接结构和所述焊盘连接结构具有导电特性；每一个所述连接器插针的插针本体穿透所述连接器本体，并使得所述DRAM连接结构和所述焊盘连接结构分别位于所述连接器本体的两侧；所述DRAM连接结构，用于通过两侧夹持的方式连接外部内存条上的DRAM颗粒；所述焊盘连接结构，用于通过插接的方式连接外部焊盘。本发明提供的方案能够针对内存条上每一个DRAM颗粒进行测试。
- 专利类型发明专利
- 申请人浪潮电子信息产业股份有限公司;
- 发明人李德恒;
- 地址250100 山东省济南市高新区浪潮路1036号
- 申请号CN201610634329.2
- 申请时间2016年08月05日
- 申请公布号CN106299786A
- 申请公布时间2017年01月04日
- 分类号H01R13/02(2006.01)I;H01R31/06(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
