摘要：本发明提供一种光斑增强处理方法，应用于激光测距，所述方法包括：获取激光光斑图像的灰度值极大值点p1,p2,…,pn；预设光斑半径r，将光斑半径r与灰度值极大值点p1,p2,…,pn两两之间的距离进行比较，获取光斑中心；对以光斑中心为圆心、r为半径的区域进行图像增强处理。上述方法通过先获取光斑的灰度值极大值点，再确定其中的一点为光斑中心，并对相应区域进行增强处理，能够对激光产生光斑进行增强显示，使得用户能够清楚地对光斑进行观察，并且不需要借助辅助设备，提供了很大的方便。本发明还提供了一种应用上述光斑增强处理方法的装置及激光测距仪。
- 专利类型发明专利
- 申请人深圳市迈测科技股份有限公司;
- 发明人李春来;侴智;骆龙;陈文东;
- 地址518000 广东省深圳市南山区桃源街道留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区9栋6楼
- 申请号CN201610848440.1
- 申请时间2016年09月23日
- 申请公布号CN106249220A
- 申请公布时间2016年12月21日
- 分类号G01S7/48(2006.01)I;G01S17/08(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
