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    一种微克量级质量的实时测量装置及其测量方法

      摘要:本发明公开了一种微克量级质量的实时测量装置,包括安装平台,安装平台的上表面设置有非接触式位移传感器,安装平台上方悬空设置有称重弹性片,紧邻称重弹性片的下表面连接有探测目标块,探测目标块的中心轴线、非接触式位移传感器的中心轴线与称重弹性片的中心位置重合。本发明还公开了一种微克量级质量的实时测量装置的测量方法,解决了现有技术中无法对微克量级质量进行高频率和高精度实时测量的问题。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人西北工业大学;
    • 发明人吕翔;陈剑;李江;刘佩进;
    • 地址710072 陕西省西安市碑林区友谊西路127号
    • 申请号CN201610518814.3
    • 申请时间2016年07月04日
    • 申请公布号CN106197625A
    • 申请公布时间2016年12月07日
    • 分类号G01G3/12(2006.01)I;