摘要：本发明属于测试装置领域，并公开了一种周期信号波形测试装置，其特征在于，其包括信号输入单元、键盘单元、PLC单元、信号采集处理单元、可编程控制器、显示单元，所述可编程控制器根据接收的信号输入通道信息来控制PLC单元，并通过PLC单元将对应的待测试周期信号波输入所述信号采集处理单元中；所述信号采集处理单元包括第一功能电路和第二功能电路。本发明通过采用可编程控制器来控制测试进程，整体测试过程可自动化进行，测试时间短，准确率高。
- 专利类型发明专利
- 申请人武汉华中数控股份有限公司;
- 发明人刘江涛;鲜飞;沈应龙;王婷;黄黎;闫秋红;
- 地址430223 湖北省武汉市东湖开发区华工科技园
- 申请号CN201610416337.X
- 申请时间2016年06月14日
- 申请公布号CN106124866A
- 申请公布时间2016年11月16日
- 分类号G01R29/02(2006.01)I;G01R29/04(2006.01)I;
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