摘要：本发明公开了一种用于解析离子源进样装置的举靶顶靶机构，包括顶靶机构和举靶机构，举靶机构具有举靶平台，举靶平台在进靶过程中向上托举且在退靶过程中向下回退，顶靶机构具有顶靶部件，顶靶部件在进靶过程中向上顶且在退靶过程中向下回退，举靶机构具有定位杆，顶靶机构具有滑动部件，滑动部件滑动安装在定位杆，顶靶机构固定安装在安装在举靶机构上的托块上；本发明提供的举靶顶靶机构实现了样品能够先进行一种低真空过度，进而再进入高真空的过程，具有操作灵活和便捷的优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人江苏天瑞仪器股份有限公司;
- 发明人刘召贵;徐鹏登;周立;
- 地址215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
- 申请号CN201610405698.4
- 申请时间2016年06月12日
- 申请公布号CN106066360A
- 申请公布时间2016年11月02日
- 分类号G01N27/64(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
